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Servicios adheridos al Sistema Nacional de Rayos X
XAS, XPS , SAXS / WAXS / GISAXS / XRR

El INIFTA cuenta con modernos laboratorios, únicos en toda la región, equipados con instrumental de Rayos X disponibles a través del SNRX para ser usados por toda la comunidad académica, científica y tecnológica.

Equipo de Dispersión de Rayos X: (*)

¿En qué consiste la técnica de Dispersión de rayos-X (SAXS)?

La técnica de dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS) permite estudiar la forma, tamaño, estructura interna e interacciones de y entre inhomogeneidades en la densidad electrónica de, prácticamente, cualquier material en el rango de tamaños de unos pocos nanómetros.
El experimento puede ser realizado en configuración de transmisión (los rayos-X atraviesan la muestra) o en configuración rasante (GISAXS, los rayos-X se reflejan en la superficie de la muestra). Esta última variante es de utilidad cuando nos interesa estudiar la estructura de películas depositadas sobre sustratos sólidos.

¿Qué tipo de experimentos podemos realizar en INIFTA?

Los experimentos pueden llevarse a cabo sobre diversos tipos de muestras como polvos, cristales, líquidos, pastas, cremas, espumas, geles, films, etc. Es también posible controlar la temperatura de la muestra entre -196 °C y 350 °C y su orientación  en relación al haz de rayos X.
Los tamaños que se pueden estimar con nuestro equipo se encuentran entre  0,3 nm y 150 nm, lo que se corresponde con ángulos de dispersión/difracción de 40° hasta 0,03° respectivamente.
Las configuraciones experimentales que podemos ofrecer son: SAXS y WAXS (dispersión a ángulo amplio) en incidencia normal y GISAXS/XRR (dispersión/reflexión de RX a bajo ángulo con incidencia rasante).

Estas técnicas son utilizadas para:

•Determinación de cristalinidad de polímeros (organización a escala molecular).
•Determinación de forma y tamaño de partícula.
•Determinación de estructura en nano y mesoescala.
•Espesor de películas delgadas.
•Densidad y composición de películas delgadas.
•Rugosidad de películas e interfaces.
•Determinación de la presencia de dominios organizados en películas delgadas.
•Determinación de la orientación de los dominios dentro del film con respecto al sustrato.
•Estimación de dimensiones características de los dominios.

Si quiere saber más sobre estas técnicas contacte a:
Dr. Marcelo Ceolín (mceolin@inifta.unlp.edu.ar)
Dr. Lisandro Giovanetti (lisandro@fisica.unlp.edu.ar)

(*)XENOCS, modelo XEUSS 1.0  http://www.xenocs.com/en/solutions/xeuss-saxs-waxs-laboratory-beamline/

Espectrómetro de Absorción de Rayos X marca Rigaku, modelo R-XAS Looper:

Es posible estudiar el estado de numerosos elementos químicos, desde livianos como el Ti hasta metales nobles como el Pd. Los modos de detección pueden ser por transmisión o fluorescencia.  Las muestras pueden ser sólidas o líquidas, o incluso, en algunos casos, ser analizadas en condiciones de funcionamiento (in situ).

Las técnicas disponibles para este equipamiento son:

XANES: Espectroscopía de absorción de Rayos X (XAS) en la región cercana al borde de absorción. Con esta técnica es posible determinar el estado químico del elemento absorbente (estado de oxidación, densidad electrónica de estados desocupados) de forma químicamente selectiva.
EXAFS: Estructura fina de absorción de Rayos X en la región extendida. Sirve para determinar el orden en el corto rango de cada uno de los elementos presentes en la muestra, esto es, la estructura atómica cercana al átomo absorbente (número y tipo de vecinos y distancias interatómicas). Esto resulta especialmente apropiado para el estudio de materiales nanoestructurados, amorfos y superficies, donde técnicas más convencionales como la difracción de Rayos X resulta limitada o no puede brindar información.

Contactos:
Dr. Félix G. Requejo - requejo@inifta.unlp.edu.ar
Dr. José M. Ramallo López - ramallo@fisica.unlp.edu.ar
Dr. Martín Mizrahi – mizrahi@fisica.unlp.edu.ar

Sistema de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) marca SPECS, analizador PHOIBOS 100, detector con 5 canales:

Esta técnica permite la identificación de los elementos químicos que componen la superficie de la muestra (hasta una profundidad de aproximadamente 5 nm), proporciona información sobre el estado químico de las especies presentes y la concentración atómica superficial.
La muestra debe ser compatible con las determinaciones en ultra alto vacío (UHV) pues se somete a un régimen de vacío promedio de 100 nanopascales. Si se trata de un sólido único debe conformar preferentemente una lámina de no menos de 5 x 5 mm2 y no más de 10 x 20 mm2 (Tamaño óptimo 10 x 10 mm2), el espesor no debe superar los 5 mm. En caso de ser un polvo o una suspensión debe consultarse por los requerimientos del soporte a emplear.

Bases de datos:
NIST XPS Database
Lasurface CNRS-VG Scientific

Contactos:
Dr. Guillermo Benitez -  gbenitez@inifta.unlp.edu.ar
Dr. Aldo Rubert - rubert@quimica.unlp.edu.ar

Todas las actividades provistas por los 3 equipos están dirigidas a prestar asesoramiento y servicio, tanto a diferentes grupos de investigación y desarrollo, nacionales y extranjeros, como a organismos públicos y privados. Están también destinados a contribuir con la formación académica de grado y de posgrado.
Por estar adheridos al Sistema Nacional de Grandes Equipamientos del MinCyT, la gestión de turnos debe realizarse a través de la página http://rayosx.mincyt.gob.ar/turnos.php

Para contactos relacionados sobre consultas de estos equipos y/o turnos, enviar mail a xray@inifta.unlp.edu.ar o comunicarse con el servicio de asesoramiento técnico, Fernanda Santandreu o Rodolfo Canteros Castelli, al teléfono (0221) 425 7430.

A continuación detallamos un esquema de cómo funciona el SNRX en el INIFTA para la obtención de un turno para el estudio de muestras:

Organigrama Xray